Illustration de couverture : Image de microscopie à force atomique (AFM) d’un indent à 1.5 µm de profondeur (film Cu sur Si) ; signal d’erreur (dérivée de la hauteur).

Caption :
AFM of a 1.5 µm depth imprint (Cu film on Si substrate); Error signal (derivative of the surface height.

Matériaux & Techniques

Volume 99 / Numéro 2 (2011)

Numéro thématique : Indentation à différentes échelles
Topical Issue: Indentation at different scales


Illustration de couverture : Image de microscopie à force atomique (AFM) d’un indent à 1.5 µm de profondeur (film Cu sur Si) ; signal d’erreur (dérivée de la hauteur).

Caption : AFM of a 1.5 µm depth imprint (Cu film on Si substrate); Error signal (derivative of the surface height.
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Recherche et Développement / Research and Development

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Offres : Technologies industrielles / Offers: Industrial technologies

Des supers capteurs utilisant des céramiques – Nanotubes améliorés pour de meilleures propriétés de revêtements p. 156

Publié en ligne : 21 juillet 2011