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Tableau 3
Techniques d'analyse pour l'étude de l'altération des verres.
| Substrat de l’analyse | Objectifs | Techniques d’analyses disponibles | Description |
|---|---|---|---|
| Solution lixiviante/Lixiviat | Dosage d’éléments en solution | Spectrométrie d'absorption atomique : SAA ou AAS | Dosage d’éléments métalliques (de l’ordre du ppb) |
| Spectrométrie d’émission atomique à plasma à couplage inductif : ICP-OES/ICP-AES | Dosage des éléments métalliques majeurs (entre 0.01 et 10 ppm) | ||
| Spectrométrie de masse à plasma à couplage inductif : ICP-MS | Dosage d’éléments métalliques mineurs (de l’ordre du ppt) | ||
| Spectrophotomètre UV-Vis | Dosage de certains éléments. Par exemple : Si, Fe, Cr | ||
| Échantillon de verre altéré | Étude de l’altération globale de l’échantillon | Balance de précision | Perte de masse |
| Étude de la surface altérée | Microscopie optique | Analyse de surface : morphologie, mesure d’épaisseur, rugosité, dépôt de matière ou perte de matière | |
| Microscope Electronique à Balayage : MEB | |||
| Microscopie Electronique à transmission : MET | |||
| Interférométrie | |||
| Analyse des phases secondaires | Diffractométrie de rayons X : DRX | Caractérisation des phases cristallisées | |
| Caractérisation des couches d’altération | Spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie : MEB-EDS et MET-EDS | Analyse chimique des couches : morphologie, épaisseur, présence d’éléments chimiques dans chaque couche) | |
| Microsonde de Castaing ou EMPA | |||
| Spectrométrie de masse des ions secondaires : SIMS/ToF-SIMS | Profils de concentration des éléments chimiques dans les couches d’altération | ||
| Spectrométrie photoélectronique induite par rayons X : XPS | Analyse élémentaire, structure à courte distance, suivi des changements de structure | ||
| Spectroscopie Raman | |||
| Spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier : IRTF | |||
| Spectroscopie par résonance magnétique nucléaire : RMN/RMN-MAS | |||
| XANES/EXAFS | Rayonnement synchrotron/Analyse élémentaire, structure à courte distance, suivi des changements de structure (couche supérieure à 0.2 µm) | ||
| Spectroscopie ellipsométrique | Analyse de l’épaisseur et la porosité du gel d’altération | ||
| Diffusion des rayons X aux petits angles : SAXS | Mesure de la taille moyenne des pores pour une porosité ouverte | ||
| Diffusion des neutrons aux petits angles : SANS | Mesure de la taille moyenne des pores pour une porosité ouverte et fermée | ||
| Analyses par faisceaux d’ions : ERDA, RBS, PIXE, PIGE | Analyse élémentaire, suivi des éléments |
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