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Tableau 6

Épaisseur moyenne de couche oxydée déterminée par micro-indentation, spectroscopie IRTF ou microscopie optique après différentes durées d’exposition du PEEK dans l’air à 280 et 300 °C.

Average thickness of oxidized layer of PEEK determined by micro-indentation, FTIR spectrophotometry or optical microscopy after different durations of exposure in air at 280 and 300 °C.

T (°C) t (h) lox (µm)
280 381 105 ± 15
  1317 415 ± 15
  2492 620 ± 30
  3166 650 ± 25
300 65 145 ± 15
  193 440 ± 25
  381 475 ± 50
  501 685 ± 25
  645 700 ± 50

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