Analyse micromécanique des coefficients de fourier des raies de diffraction en relation avec les microstructures de dislocations

Micromechanical analysis of diffraction lines fourier coeficients in relation with dislocation microstructure

LPMM UMR CNRS 7554 - Ecole Nationale Supérieure d'Arts et Métiers, 4, rue Augustin Fresnel, 57078 Metz Cedex 3, France

Résumé

Une analyse des microstructures de dislocations est menée à partir des élargissements des raies de diffraction. Pour cela, une approche micromécanique est développée afin de relier la densité de dislocations aux champs de distorsion, et ceci en considérant l'interaction mécanique entre les points du réseau cristallographique. Ces champs sont ensuite projetés sur le vecteur de diffraction afin d'estimer les coefficients de Fourier des raies de diffraction. Par le biais de ces derniers, la sensibilité au choix du vecteur de diffraction est discutée pour une dislocation isolée puis une distribution périodique de dislocations en faisant varier la distance entre deux dislocations successives.

Abstract

A dislocation microstructure analysis is carried out from X-ray line broadening. For that, a micromechanical approach is developed in order to relate the dislocation density to the distortion fields, by considering the mechanical interaction between the crystallographic lattice points. These fields are then projected on the diffraction vector in order to estimate the Fourier coefficients of the diffraction peaks. By the means of the latter, the sensitivity of the diffraction vector choice is discussed for a single dislocation and periodic dislocation distributions while varying the distance between two successive dislocations.