Mesure de l’épaisseur et analyse de la composition des revêtements d’alliage d’or et des éventuelles sous-couches par microfluorescence X

Thickness measurement and chemical analysis of the gold alloy coatings and possible underlayers by XRF spectrometry

Cetehor, 39 avenue de l’Observatoire, BP. 1145, 25003 Besançon Cedex, France

Auteur de correspondance : c.buron@cetehor.com

Reçu : 15 Avril 2006
Accepté : 21 Juin 2006

Résumé

Aujourd’hui, les applicateurs de traitements de surface et les donneurs d’ordres s’équipent de spectromètres de microfluorescence X afin de mesurer les épaisseurs des revêtements notamment pour valider leur conformité à la réglementation sur les revêtements de métaux précieux ou au cahier des charges. Les spectromètres de microfluorescence X de nouvelle génération, équipés de logiciels proposant la détermination des épaisseurs et de la composition des revêtements, favorisent la diffusion de cette technologie. Cette utilisation complique les relations clients – fournisseurs à cause des divergences sur l’utilisation des équipements et l’interprétation des résultats obtenus. L’étude présente porte sur la comparaison des valeurs obtenues par spectrométrie de microfluorescence X avec des mesures réalisées sur coupe micrographique, considérée comme la méthode de référence. Plusieurs gammes de traitements, habituelles sur les produits décoratifs, sont étudiées. L’étude montre la réelle difficulté et les limites dans la détermination de l’épaisseur des revêtements d'or par microfluorescence X.

Abstract

Today, subcontractors of surface treatments and their clients get their own XRF spectrometer in order to measure the thickness of the coatings, especially to validate their conformity with the regulations on precious metal coatings or with the specifications. For the new generation of XRF equipments, software enables to calculate and define the thickness and the composition of the coatings, which is favourable to the dissemination of this technology. Meanwhile its use complicates the client-supplier relationships because of the divergences regarding the way the equipments are used and regarding the interpretation of the results. The actual study aims in making a comparison between both the values obtained by XRF spectrometry and the measurements carried out on micrographic cross-sections, the last method being considered as the reference. Different kind of usual surface treatments for decorative purpose are investigated. The study shows the real difficulty and the limits of XRF spectrometry for thickness measurement of gold coatings.