| Issue |
Matériaux & Techniques
Volume 85, Number 5-6, 1997
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| Page(s) | 45 - 47 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/mattech/199785050045 | |
| Published online | 13 April 2017 | |
La microscopie à force atomique et le contrôle des surfaces à l’échelle submicrométrique
Université de Reims Champagne Ardenne, Laboratoire de Microscopie Electronique, Reims
La microscopie à force atomique est une technique d’analyse des surfaces récente et très prometteuse. Elle permet de caractériser la topographie des surfaces avec une résolution spatiale et verticale de l’ordre du nanomètre. Le microscope à force atomique est un instrument de métrologie utilisable comme profilomètre et rugosimètre. Il permet également de faire des études de nanotribologie (friction, adhérence) et d’avoir accès à certaines propriétés physiques ou mécaniques (élastiques, magnétiques ou électriques).
© SIRPE 1997
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