Mesure et cartographie à l’échelle nanométrique des propriétés ferroélectriques et diélectriques des couches minces par les techniques dérivées de la microscopie à force atomique
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Matériaux & Techniques, 99 4 (2011) 483-488
Publié en ligne : 13 octobre 2011
DOI: 10.1051/mattech/2011115