Matériaux & Techniques

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Photoélasticimétrie infrarouge assistée par ordinateur : Mesure des contraintes résiduelles dans le silicium polycristallin

Hervé Boileau, Didier Chambonnet, Robert Gauthier et Pierre Pinard

Matériaux & Techniques, 74 9-10 (1986) 443-445

Publié en ligne : 19 avril 2017

DOI: 10.1051/mattech/198674090443

Hervé Boileau

Didier Chambonnet

Robert Gauthier

Pierre Pinard

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