Photoélasticimétrie infrarouge assistée par ordinateur : Mesure des contraintes résiduelles dans le silicium polycristallinHervé Boileau, Didier Chambonnet, Robert Gauthier and Pierre PinardMatériaux & Techniques, 74 9-10 (1986) 443-445DOI: https://doi.org/10.1051/mattech/198674090443
