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Illustration de couverture : Image de microscopie à force atomique (AFM) d’un indent à 1.5 µm de profondeur (film Cu sur Si) ; signal d’erreur (dérivée de la hauteur).

Caption :
AFM of a 1.5 µm depth imprint (Cu film on Si substrate); Error signal (derivative of the surface height.

Matériaux & Techniques

Volume 99 / No 2 (2011)

Numéro thématique : Indentation à différentes échelles
Topical Issue: Indentation at different scales


Illustration de couverture : Image de microscopie à force atomique (AFM) d’un indent à 1.5 µm de profondeur (film Cu sur Si) ; signal d’erreur (dérivée de la hauteur).

Caption : AFM of a 1.5 µm depth imprint (Cu film on Si substrate); Error signal (derivative of the surface height.

Comprendre l'indentation

Développer l'indentation

Appliquer l'indentation

Recherche et Développement / Research and Development

Application of high resolution thermal drift free nanoindentation system for characterization of gels and spherical indenters p. 152

Published online: 21 July 2011

Offres : Technologies industrielles / Offers: Industrial technologies

Des supers capteurs utilisant des céramiques – Nanotubes améliorés pour de meilleures propriétés de revêtements p. 156

Published online: 21 July 2011